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低温散射扫描近场光学显微镜

低温散射扫描近场光学显微镜

LT-sSNOM 具备近场成像与光谱分析能力,同时支持接触模式、动态模式、MFM、cAFM、KPFM、PRFM 等多种 AFM 模式。探针与样品界面通过离轴抛物面镜照明,散射光由外差干涉仪检测。可同时获得拓扑图像与光学图像。

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