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霍尔效应测量系统(HEMS)

霍尔效应测量系统(HEMS)

HEMS 是一套集成硬件与软件的系统,用于测量和分析样品的电子特性。系统可在最高 2.5 特斯拉的磁场下进行测量;配合低温恒温器时,磁场可达 16 特斯拉。 该系统支持在 3 K – 1273 K 的温度范围内使用两种不同的温度测量探头进行测量,并通过可在三轴移动的探针系统实现样品的便捷安装。 NMI 霍尔效应测量系统可对半导体、有机导体和金属氧化物材料进行电学表征。这些材料采用纳米技术制备,广泛应用于芯片技术、太阳能电池研发、材料科学、空间技术和国防工业。

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